DDR5时代即将来临,泰克推出TekExpress DDR5发射机解决方案
泰克科技公司日前推出最新TekExpressDDR5发射机解决方案 , 其改善了自动化程度 , 工程师可以克服各种DFE所带来的分析挑战 , 采用用户自定义采集和DDR5去嵌技术及串行数据链路分析(SDLA)技术 , 满怀信心地、高效地验证和调试DDR5设计 。
从增强现实、人工智能到云计算和物联网 , 5G正在推动着各种新兴技术迅速增长 , 人们对容量更高、速度更快、能耗更低、尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高 , DDRSRAM也不断响应市场需求 , 技术升级不断推陈出现 , 这使得DDR5比以往任何时候都更重要 。 DDR5内存时代即将到来 , 频率更高、功耗更低、速度更快 , 从入门级速度4800MHz到5200/5600MHz , 未来两年计算机、消费性产品市场将逐渐转从DDR4过渡至DDR5 。
快速存取数量庞大的存储数据 , 意味着复杂的设计正在挑战信号完整性极限 , 要求性能更高的测量技术来完成一致性测试、调试和验证 。 TekExpressDDR5发射机解决方案是一种系统级自动测试应用 , 用户可以迅速、经济、可靠地验证和调试DDR5设计 , 满足JEDEC中所规定的50多种电接口和时序测量 。

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DFE分析
DDR4内容目前还是绝对主流 , 但DDR5已经完成了规范开发 , 当在存在符号间干扰(ISI)的情况下测试DDR5设计时 , 即使DDR3/4的最佳调试工具也是不够用的 。 泰克DDR5系统级一致性测试软件提供了各种自动化工具 , 克服了下一代DDR面临的各种挑战 , 包括:
RxDFE均衡支持 , 在DDR5业务中进行写入数据的眼图测量;
【DDR5时代即将来临,泰克推出TekExpress DDR5发射机解决方案】自动测量JEDEC中规定的50多种DDR5电接口和时序参数;
多种新算法 , 一致可靠地区分读突发和写突发;
全新一致性测试应用架构 , 增强了自动化程度 , 缩短了测试时间 , 帮助更快地把设计推向市场 。
调试和验证
TekExpressDDR5发射机解决方案把控制能力还到了工程师手中 , 它拥有用户自定义采集模式 , 可以量身定制示波器设置 , 包括采样率、记录长度、带宽等 , 来运行DDR5JEDEC一致性测量 。
泰克独立式DDR5DFE应用可以整体控制DFE增益和4抽头值 , 工程师可以运行内部测试计划 , 执行测量关联仿真 , 通过改变4抽头值和增益值 , 微调仿真模型 , 进行假设分析 。
SDLA
在对DDR5设计进行去嵌时 , S参数的验证通常是工程师担心的主要问题 。 通过改善无源性校验、端口分配和绘图功能 , 串行数据链路分析(SDLA)技术增强了对S参数文件的验证 , 改善了灵活性 , 提高了对去嵌流程的信心 , 节省了时间 。 其他的调试软件工具要求用户在完成整个流程后才能得到结果 , 而TekExpressDDR5发射机解决方案则不同 , 用户可以提前检测到问题 , 更高效地调试和优化设计 。
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