腾讯安全：通过改写快充设备固件的控制充电行为，可让芯片烧毁
IT之家7月16日消息7月15日 ， 腾讯安全玄武实验室发布了一项命名为“BadPower”的重大安全问题研究报告 。 报告指出 ， 市面上现行大量快充终端设备存在安全问题 ， 攻击者可通过改写快充设备的固件控制充电行为 ， 造成被充电设备元器件烧毁 ， 甚至更严重的后果 。
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【腾讯安全：通过改写快充设备固件的控制充电行为，可让芯片烧毁】▲某受电设备遭BadPower攻击时芯片烧毁的情况
IT之家了解到 ， 报告显示 ， 腾讯玄武安全实验室对市面上35款支持快充技术的充电器、充电宝等产品进行测试 ， 发现其中18款存在安全问题 。 攻击者可利用特制设备或被入侵的手机、笔记本等数字终端来入侵快充设备的固件 ， 控制充电行为 ， 使其向受电设备提供过高的功率 ， 从而导致受电设备的元器件击穿、烧毁 ， 还可能进一步给受电设备所在物理环境造成安全风险 。 攻击方式包括物理接触和非物理接触 ， 有相当一部分攻击可以通过远程方式完成 。 在玄武实验室发现的18款存在BadPower问题的设备里 ， 有11款设备可以通过数码终端进行无物理接触的攻击 。
玄武实验室表示 ， 不同的快充协议本身没有安全性高低的差别 ， 风险主要取决于是否允许通过USB口改写固件 ， 以及是否对改写固件操作进行了安全校验等 。 玄武实验室表示 ， 市面上快充芯片至少近六成具备成品后通过USB口更新固件的功能 。
腾讯安全玄武实验室已将“BadPower”问题上报给国家主管机构CNVD 。 小米和Anker将在未来上市的快充产品中加入玄武安全检测环节 。
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玄武实验室表示 ， 大部分BadPower问题可通过更新设备固件进行修复 。 未来 ， 厂商在设计和制造快充产品时可通过提升固件更新的安全校验机制、对设备固件代码进行严格安全检查、防止常见软件漏洞等措施来防止BadPower发生 。
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